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158件中 71~80件を表示
71. Practical Atomic Force Microscopy(RMS-Royal Microscopical Society) hardcover 400 p. '14

Practical Atomic Force Microscopy(RMS-Royal Microscopical Society) hardcover 400 p. '14 978-1-119-99204-2

John Wiley & Sons Ltd.(2014/05)
  • 現地価格:$160
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72. Ferroelectric Domain Walls 2014th ed.(Springer Theses) H 200 p. 14

Ferroelectric Domain Walls 2014th ed.(Springer Theses) H 200 p. 14 978-3-319-05749-1

Springer International Publishing(2014/04)
  • 現地価格:€99.99
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73. Handbook of Spectroscopy 2e, 2nd, Completely Revised and Enlarged ed. '14

Handbook of Spectroscopy 2e, 2nd, Completely Revised and Enlarged ed. '14 978-3-527-32150-6

Wiley-VCH Verlag GmbH(2014/04)
  • 現地価格:£566.95
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74. International Multidisciplinary Microscopy Congress 2014th ed.(Springer Proceedings in Physics Vol.154) H 500 p. 14

International Multidisciplinary Microscopy Congress 2014th ed.(Springer Proceedings in Physics Vol.154) H 500 p. 14 978-3-319-04638-9

Springer International Publishing(2014/04)
  • 現地価格:€149.99
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75. Internal Photoemission Spectroscopy 2nd ed. H 404 p. 14

Internal Photoemission Spectroscopy 2nd ed. H 404 p. 14 978-0-08-099929-6

Elsevier US(2014/03)
  • 現地価格:$200
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76. Basic Concepts of X–Ray Diffraction P 312 p. 14

Basic Concepts of X–Ray Diffraction P 312 p. 14 978-3-527-33561-9

Wiley-VCH Verlag GmbH(2014/03)
  • 現地価格:£67
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77. X-Ray Line Profile Analysis in Materials Science(Research Essentials) H 359 p. 14

X-Ray Line Profile Analysis in Materials Science(Research Essentials) H 359 p. 14 978-1-4666-5852-3

IGI Global(2014/02)
  • 現地価格:$215
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78. Applied Photometry, Radiometry, and Measurements of Optical Losses 2012nd ed.(Springer Series in Optical Sciences Vol.163) P XIX

Applied Photometry, Radiometry, and Measurements of Optical Losses 2012nd ed.(Springer Series in Optical Sciences Vol.163) P XIX 978-94-017-8526-6

Springer Netherlands(2014/02)
  • 現地価格:€229.99
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79. Studying Atomic Dynamics with Coherent X-rays 2012nd ed.(Springer Theses) P X, 98 p. 14

Studying Atomic Dynamics with Coherent X-rays 2012nd ed.(Springer Theses) P X, 98 p. 14 978-3-642-43622-2

Springer-Verlag GmbH(2014/02)
  • 現地価格:€49.99
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80. Scanning Probe Microscopy in Industrial Applications:Nanomechanical Characterization '14

Scanning Probe Microscopy in Industrial Applications:Nanomechanical Characterization '14 978-1-118-28823-8

Wiley-Blackwell(2014/01)
  • 現地価格:$148.95
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