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Active Probe Atomic Force Microscopy:A Practical Guide on Precision Instrumentation '23

Active Probe Atomic Force Microscopy:A Practical Guide on Precision Instrumentation '23

著者：Xia, Fangzhou/Rangelow, Ivo W./Youcef-Toumi, Kamal


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登録情報

商品コード：1036586382
出版社: Springer International Publishing
出版年月: 2024/02
ISBN-10: 3031442326
ISBN-13: 978-3-031-44232-2
出版国: スイス
装丁: hardcover/Geb./rel.
媒体: 冊子
ページ数: XXIV, 366 p. 138 illus., 125 illus. in color.
ジャンル: 計測工学


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